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            廣東森德儀器有限公司

            PRODUCT DISPLAY

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            比表面積及孔徑分析儀

            參  考  價(jià): 210000

            訂  貨  量: ≥1 件

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào):JW-BK200C

            品       牌:其他品牌

            廠商性質(zhì):代理商

            所  在  地:廣州市

            更新時(shí)間:2025-04-05 16:17:57瀏覽次數(shù):97次

            聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)
            產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 10萬-30萬
            儀器種類 比表面及孔徑分析儀 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
            比表面積及孔徑分析儀,兩個(gè)獨(dú)立工作站含P0,一站高精度1000Torr、10Torr、1Torr傳感器,二站高精度1000Torr、10Torr、1Torr傳感器,分子泵+機(jī)械泵真空系統(tǒng),兩個(gè)獨(dú)立脫氣站進(jìn)行異位脫氣,分析位也可原位脫氣。

            比表面積及孔徑分析儀 JW-BK200C 參數(shù)

            1主機(jī)具有以下功能:

            1.1全孔吸(脫)附等溫線;微孔吸附等溫線;

            1.2 BET比表面積(多點(diǎn)、單點(diǎn))、Langmuir比表面積、t-plot法外表面積;

            1.3 BJH介孔大孔孔容積及孔徑分布分析

            1.4 HK法、SF法t-plot法微孔總孔體積、內(nèi)表面積測(cè)定;MP法微孔分析

            1.5 NLDFT法微孔及介孔連用分析軟件

            1.6 吸附等溫線:具有定壓力和定點(diǎn)兩種測(cè)試方法,軟件有獨(dú)立的界面實(shí)時(shí)顯示每個(gè)

            樣品的吸附過程,可實(shí)時(shí)了解樣品的吸附特性(投標(biāo)時(shí)提供軟件功能截圖并加蓋制造商公章)

            ※1.7分析站各自獨(dú)立,可以同時(shí)測(cè)不同預(yù)處理?xiàng)l件的樣品。產(chǎn)品可以(分別)測(cè)不同吸附質(zhì)。

            2.儀器測(cè)試精度:

            比表面重復(fù)精度≤± 1.0%; 孔徑重復(fù)偏差≤0.02nm 。

            3.測(cè)試范圍:

            0.0005(m2/g)--至無上限(比表面積); 0.35nm-500nm 孔徑分析

            ※4.儀器分析站:2個(gè)獨(dú)立分析站,每一個(gè)分析站對(duì)應(yīng)一個(gè)真空高硼硅玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶,共2套。

            5.儀器主機(jī)硬件配置:

            ※ 5.1真空泵:進(jìn)口機(jī)械真空泵+德國(guó)渦輪分子泵使得極限真空度高達(dá)10-8Pa;

            ※ 5.2傳感器:不少于8個(gè)壓力傳感器,分析站6個(gè)(1000 Torr、10 Torr、1Torr、

            三種大小傳),飽和蒸汽壓2個(gè)1000 Torr,配置瑞士英??祩鞲衅?。

            ※5.3.P0站: 2個(gè),實(shí)時(shí)檢測(cè),提供檢測(cè)報(bào)告截圖證明

            5.4熱自由空間溫度T的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)與校正;

            ※5.5冷阱:2個(gè),脫氣站和分析站各配置一個(gè),有效的去除水分、有害物質(zhì)等雜質(zhì);

            ※5.6真空塞:配備有真空塞,該真空塞阻隔樣品接觸空氣,對(duì)于可能含有溶劑或有害雜質(zhì)的樣品,可以選用真空塞進(jìn)行異位處理,避免原位處理樣品時(shí)儀器管路被污染或分子泵被損壞。同時(shí)由于異位處理樣品,節(jié)省原位預(yù)處理時(shí)間,可以使儀器用于測(cè)試,提高儀器的利用率。實(shí)現(xiàn)原位脫氣和異位脫氣的自主選擇。

            6.脫氣系統(tǒng):

            ※ 6.1 同位脫氣2個(gè),避免二次污染;

            6.2 異位脫氣2個(gè),每個(gè)都有單獨(dú)的溫控系統(tǒng),獨(dú)立控溫;

            6.3脫氣溫度:0-400℃,精度±1℃,加熱包采用高質(zhì)量隔熱棉內(nèi)膽,外部軟包材料,密腳縫制,內(nèi)置熱電偶,更易包裹樣品管,加熱溫度更均勻,測(cè)溫更精準(zhǔn)。

            .功能及特點(diǎn)

            ※1.液氮面控制: 配備恒溫夾2個(gè)

            2.防抽飛:防抽飛專有系統(tǒng),易拆卸易清理;

            ※3、儀器具有樣品管真空密封塞以及真空密封系統(tǒng);

            4、儀器前面板上配置狀態(tài)顯示系統(tǒng),顯示儀器的工作原理圖,閥位增加LED燈指示電

            磁閥通斷,在實(shí)驗(yàn)過程中可直觀判斷儀器的運(yùn)行狀態(tài)

            ※5.冷自由空間控制技術(shù):采用等溫夾套、填充棒、防揮發(fā)蓋、軟件自動(dòng)補(bǔ)償?shù)染C合控

            制技術(shù),適合各種冷浴,包括液氮,液氬,冰水等;(提供等溫夾套技術(shù)證明)

            ※6.控制系統(tǒng)及溫度測(cè)量:必需全部采用低溫電磁閥自動(dòng)控制,兼以外氣室內(nèi)部空間溫

            度實(shí)時(shí)準(zhǔn)確測(cè)定,并在軟件控制界面實(shí)時(shí)顯示,且實(shí)時(shí)納入吸附量公式中;

            ※7.測(cè)試邏輯優(yōu)勢(shì)-數(shù)據(jù)控制方法:平衡壓力智能控制法,吸脫附孔徑分布分析分六段優(yōu)化設(shè)置,可設(shè)壓力間0.1-133 kPa,可靈活設(shè)置,全自動(dòng)控制及調(diào)節(jié),提高測(cè)試效率,微孔分析平均每樣8-12小時(shí);

            ※8.HK-SF測(cè)試?yán)碚摚簩?duì)于HK-SF模型,有不同標(biāo)準(zhǔn)的吸附劑和吸附質(zhì)參數(shù)供選擇。(貝士德只有有一種參數(shù):H-K法(Original)微孔分析)。

            ※9.自動(dòng)選點(diǎn):BET比表面積自動(dòng)選點(diǎn)功能,可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)選取最佳P/P0范圍,獲得BET比表面積數(shù)據(jù)。

            ※10.數(shù)據(jù)處理:具有overlay功能,可以現(xiàn)不同測(cè)試數(shù)據(jù)的比對(duì),便于及時(shí)快速進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。

            1. 收納方面:提供了一個(gè)方便、安全且美觀的收納方式,使加熱包易于收納和使用,減少了損壞和安全風(fēng)險(xiǎn)。

            2. 軟件兼容性:與其他品牌的DFT分析軟件兼容,能夠生成詳細(xì)的測(cè)試結(jié)果報(bào)告,確保無縫的數(shù)據(jù)交互和高效的分析流程。

            3. 打印功能:添加吸附動(dòng)力學(xué)打印功能

            比表面積及孔徑分析儀

            4. 精準(zhǔn)性:軟件將根據(jù)用戶的投氣設(shè)置和P/P0max的設(shè)定綜合判斷,并始終優(yōu)先執(zhí)行較小的那個(gè)數(shù)值,以確保操作的精確性和高效性。

            5. 精準(zhǔn)控制:我們提供了開放微孔系統(tǒng),可以靈活進(jìn)行微孔的定量和定點(diǎn)投氣,滿足不同實(shí)驗(yàn)需求的精準(zhǔn)控制。

            比表面積及孔徑分析儀

            6. 數(shù)據(jù)導(dǎo)出:我們提供了吸附動(dòng)力學(xué)數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能,可以生成詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告,報(bào)告中包含原始數(shù)據(jù)和圖表,方便用戶進(jìn)行綜合分析和文檔記錄。


            比表面積及孔徑分析 JW-BK200C 優(yōu)勢(shì)


            比表面積及孔徑分析儀(JW-BK200C)優(yōu)勢(shì)顯著:采用雙獨(dú)立分析站,支持同時(shí)處理不同樣品及吸附質(zhì),配備進(jìn)口渦輪分子泵(極限真空10??Pa)和瑞士高精度傳感器(8個(gè)壓力傳感器),確保數(shù)據(jù)精準(zhǔn)(比表面重復(fù)性≤±1%,孔徑偏差≤0.02nm)。專有真空塞設(shè)計(jì)結(jié)合雙冷阱系統(tǒng),有效防止污染并保護(hù)分子泵,支持原位/異位脫氣靈活切換。軟件功能強(qiáng)大,具備實(shí)時(shí)吸附監(jiān)控、BET自動(dòng)選點(diǎn)、NLDFT聯(lián)合分析及跨品牌DFT兼容性,支持吸附動(dòng)力學(xué)數(shù)據(jù)導(dǎo)出與多數(shù)據(jù)對(duì)比。硬件集成恒溫夾套、防抽飛系統(tǒng)及低溫電磁閥控制,搭配智能平衡壓力邏輯和開放微孔定量投氣功能,提升測(cè)試效率(微孔分析8-12小時(shí)/樣)。測(cè)試范圍覆蓋0.0005m2/g至無上限比表面積及0.35nm-500nm全孔徑分析,滿足多樣研究需求。


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